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簡介
實際生產(chǎn)的產(chǎn)品與理想的CAD模型可能存在一定尺寸差異從而影響產(chǎn)品的性能和使用，分析對比存在的差異反諸于生產(chǎn)工藝的改進是常用的措施
目的
以直觀的色彩偏差快速形象地顯示目標結(jié)構(gòu)與其CAD數(shù)據(jù)的偏差
應用
注塑件、裝配件、高精密元器件
步驟
確認樣品類型→放置測量裝置中→快速掃描→對比CAD模型→多彩顯示模數(shù)對比偏差
如圖所示
簡介三維X射線掃描（CT）采用計算機斷層掃描技術(shù)，在對被檢測物體無損傷的條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準確、直觀地展示被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。 目的確定產(chǎn)品內(nèi)部可能存在的缺陷的類型、位置以及尺寸。 應用范圍塑料、陶瓷等復合材料，以及鎂、鋁和鋼原料制成的零件、粘結(jié)劑等。 測試步驟確認樣品類型/材料→放置測量裝置中→快速掃描→圖像整體透視、任意面剖視→缺陷分析。
